A.5
B.10
C.15
D.20
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A.從巖體上分離巖石一清理巖石一支護(hù)
B.從巖體上分離巖石一支護(hù)一清理巖石
C.支護(hù)一從巖體上分離巖石一清理巖石
D.清理巖石一支護(hù)一從巖體上分離巖石
A.100
B.200
C.300
D.400
A.10-30
B.20-40
C.30-50
D.40-60
A.1.0
B.1.5
C.1.8
D.2.0
A.10
B.15
C.20
D.25
A.朝上
B.朝向操作者
C.朝下
D.背向操作者
A.無(wú)縫鋼管
B.直縫焊管
C.螺旋焊管
D.電弧焊管
A.5,3
B.4,3
C.5,2
D.4,2
A.0℃
B.-10℃
C.-20℃
D.-30℃
A.至少每周一次
B.至少每月一次
C.至少每半年一次
D.至少每年一次
最新試題
礦產(chǎn)資源/儲(chǔ)量估算方法包括傳統(tǒng)幾何法和其他方法。
對(duì)于探礦工程,一般Ⅰ勘查類(lèi)型以鉆探為主;Ⅱ勘查類(lèi)型以鉆探為主,輔以坑探進(jìn)行驗(yàn)證;Ⅲ勘查類(lèi)型以坑探、鉆探結(jié)合對(duì)礦體加以控制。一般情況下,地形條件有利、礦體傾角較緩以鉆探為主,礦體傾角較陡以坑探為主。
地質(zhì)樣品采樣方法分為取心法、刻槽法、剝層法、全巷法、連續(xù)打塊法、集束刻線(xiàn)法、方格法、撰取法等。
地質(zhì)填圖中按照填圖精度要求的觀察路線(xiàn)距離,垂直(或大致垂直)巖層走向布置觀察路線(xiàn),觀察路線(xiàn)要根據(jù)填圖精度和基巖出露情況考慮點(diǎn)距和線(xiàn)距。
根據(jù)樣品內(nèi)、外檢管理規(guī)定,內(nèi)檢()進(jìn)行一次。
槽、井、坑探取樣,通常為刻槽法,其斷面規(guī)格原則上要進(jìn)行試驗(yàn)確定。
一般情況下,地質(zhì)界線(xiàn)投影時(shí),常用壁下、壁頂、坑頂3個(gè)投影繪圖點(diǎn),這3個(gè)點(diǎn)基本上可以控制()及坑頂兩個(gè)面上的地質(zhì)要素的基本形態(tài)。
各探礦工程中,按礦化類(lèi)型、夾石連續(xù)分段取樣,并控制礦體頂、底板界線(xiàn)。
坑道方向改變后,坑壁上巖礦層的傾角線(xiàn)、頂板上的走向線(xiàn)在繪圖時(shí),方向和角度都有變化,出現(xiàn)巖石花紋不連續(xù),可用()在轉(zhuǎn)向處分開(kāi)。
按坑道與礦體關(guān)系,分為穿脈坑道(簡(jiǎn)稱(chēng)穿脈)及沿脈坑道(簡(jiǎn)稱(chēng)沿脈)。穿脈橫向揭穿礦體,沿脈順礦體走向,其中在礦體內(nèi)部的稱(chēng)脈內(nèi)沿脈,在礦體頂、底板圍巖中的稱(chēng)脈外沿脈。