地質(zhì)樣品采樣方法分為取心法、刻槽法、剝層法、全巷法、連續(xù)打塊法、集束刻線法、方格法、撰取法等。

一般情況下，地質(zhì)界線投影時，常用壁下、壁頂、坑頂3個投影繪圖點，這3個點基本上可以控制（）及坑頂兩個面上的地質(zhì)要素的基本形態(tài)。

地質(zhì)填圖中按照填圖精度要求的觀察路線距離，垂直（或大致垂直）巖層走向布置觀察路線，觀察路線要根據(jù)填圖精度和基巖出露情況考慮點距和線距。

槽、井、坑探取樣，通常為刻槽法，其斷面規(guī)格原則上要進行試驗確定。

物探技術(shù)人員和地質(zhì)技術(shù)人員在勘查工作中應密切配合，做到四共同，即共同設計部署、共同推斷解譯、共同查證異常、共同編寫報告。

鉆探工程的目的是驗證、追索、控制礦（化）體在深部賦存的規(guī)模、形態(tài)、產(chǎn)狀、厚度和有用組分的變化；調(diào)礦（化）體之間、礦（化）體與地層、構(gòu)造、巖漿巖的相互關(guān)系，為進一步勘查、坑道掘進和礦山建設設計提供地質(zhì)依據(jù)。

坑道方向變化或坡度改變在15°以上時，應（）編錄。

采用米·克/噸值圈定礦體時可以外推（以米·克/噸值圈定的薄脈型礦體除外）。

各探礦工程中，按礦化類型、夾石連續(xù)分段取樣，并控制礦體頂、底板界線。

鉆探工程終孔后，應按要求進行封孔，并做好封孔記錄。一般要求封孔水泥柱進入基巖長度不應小于5米，礦體所在部位、礦體頂板以上5米、頂板以下5米應封孔。對封孔質(zhì)量進行驗證時，應進行透孔質(zhì)量檢查，透孔檢查率為5%~10%，若發(fā)現(xiàn)封孔質(zhì)量存在問題，應進行重新封孔。