A.0.121MeV 和0.280MeV
B.0.31MeV 和0.47MeV
C.0.265MeV 和0.136MeV
D.1.33MeV 和1.17MeV
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A.排空氣體
B.釋放氣體
C.吸收氣體
D.蒸發(fā)氣體
A.通電時(shí)間測(cè)量器
B.漏電保護(hù)器
C.黑光輻照計(jì)
D.快速斷電試驗(yàn)器
A.接收超聲波
B.發(fā)射超聲波
C.加強(qiáng)超聲波
D.抑制超聲波
A.對(duì)材料脆性轉(zhuǎn)變不敏感
B.斷口分析比較清晰
C.應(yīng)力集中大
D.缺口尖銳
A.信噪比提高
B.信噪比下降
C.缺陷檢出困難
D.缺陷容易檢出
A.觀察缺陷
B.處理缺陷
C.評(píng)定缺陷
D.存儲(chǔ)圖像
A.放射源
B.包殼
C.輸源管
D.辮子
A.缺陷性質(zhì)
B.缺陷方位
C.缺陷波的指向性
D.工件形狀和尺寸
A.置換固溶體
B.間隙固溶體
C.化合物
D.機(jī)械混合物
A.水平線性
B.垂直線性
C.動(dòng)態(tài)范圍
D.分辨力
最新試題
產(chǎn)生干涉的兩列相干波,在振動(dòng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生不同的波程差,波程差與波長(zhǎng)相關(guān)聯(lián),所以不同的波程差會(huì)出現(xiàn)()等現(xiàn)象。
下列關(guān)于無(wú)限大固體介質(zhì)中聲速的說(shuō)法錯(cuò)誤的有()。
組成滲透液的物質(zhì)很多,為保證其使用性能,除了主要的紅色染料外,又添加了()等物質(zhì)。
常用的顯像方法包括()。
用縱波直探頭確定缺陷平面位置時(shí)需要考慮的問(wèn)題有()。
下列關(guān)于照射場(chǎng)的大小對(duì)散射比的影像的說(shuō)法,錯(cuò)誤的有()。
對(duì)底片進(jìn)行評(píng)定時(shí),首先對(duì)底片進(jìn)行質(zhì)量檢查,不滿足要求的底片不予評(píng)定,質(zhì)量檢查項(xiàng)目有()。
滲透檢測(cè)體系的分辨力是指滲透檢測(cè)體系()的能力。
超聲場(chǎng)中波源軸線上任一點(diǎn)聲壓的幅值與下列()等因素有關(guān)。
軟X 射線管選用鉬作陽(yáng)極靶,鉬靶和鎢靶比較,()。