A.超聲探傷儀主要技術(shù)
B.輪軸探傷
C.數(shù)字信號(hào)
D.超聲波探傷
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A.單
B.雙
C.四
D.五
A.待鑒定
B.待復(fù)驗(yàn)
C.有缺陷
D.存在裂紋
A.聲阻抗相同
B.同批次
C.相同
D.聲速相同
A.安全保證
B.基礎(chǔ)保證
C.作業(yè)保證
D.質(zhì)量保證
A.車統(tǒng)-51C;W
B.車統(tǒng)-53A;W
C.車統(tǒng)-51C;V
D.車統(tǒng)-53A;V
A.等于
B.大于
C.小于
D.等于或大于
A.增益或衰減量
B.增益
C.衰減
D.抑制
A.C
B.T
C.W
D.S
A.5
B.3
C.2
D.4
A.縱波
B.切變波
C.橫波
D.以上均不正確
最新試題
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來,最主要的是決定于()
影響較大的散射線通常來自()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()