A.“O”型刻槽
B.“+”型刻槽
C.刻槽
D.刻槽面
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A.接觸
B.密貼
C.貼合
D.粘貼
A.禁止
B.不能
C.不得
D.可以
A.320
B.330
C.340
D.350
A.不能
B.禁止
C.不得
D.不可以
A.外表面
B.表面
C.接觸面
D.金屬面
A.操作規(guī)程
B.設(shè)備操作規(guī)程
C.儀器操作規(guī)程
D.操作流程
A.強(qiáng)
B.稍強(qiáng)
C.薄弱
D.弱
A.日常性能校驗(yàn)
B.季度性能校驗(yàn)
C.日常性能檢查
D.季度性能檢查
A.日常性能校驗(yàn)
B.季度性能校驗(yàn)
C.日常性能檢查
D.季度性能檢查
A.10℃~30℃
B.20℃~30℃
C.15℃~30℃
D.10℃~20℃
最新試題
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
影響較大的散射線通常來自()
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
康普頓效應(yīng)對射線檢測的影響包括()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()