A.垂直分量左右對(duì)稱
B.水平分量和工件表面垂直
C.水平分量有極大值
D.水平分量和工件表面平行
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.B/BF 法
B.F/BF 法
C.B/B 法
D.F/B 法
A.曝光室
B.操作室
C.暗室
D.評(píng)片室
A.頻率高
B.波長(zhǎng)短
C.波長(zhǎng)長(zhǎng)
D.頻率低
A.γ射線
B.β射線
C.X射線
D.α射線
A.射線能量
B.工件厚度
C.透照角度
D.底片質(zhì)量
A.損害程度與吸收劑量無(wú)關(guān)
B.不存在劑量閾值
C.存在劑量閾值
D.發(fā)生概率與吸收劑量有關(guān)
A.探頭折射角和聲程
B.探頭反射角和聲程
C.缺陷水平方向投影
D.缺陷垂直方向投影
A.脈沖寬度較寬
B.脈沖寬度較小
C.深度分辨力差
D.深度分辨力好
A.擴(kuò)散區(qū)
B.未擴(kuò)散區(qū)
C.遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)
D.近場(chǎng)區(qū)
A.短橫孔
B.切割槽
C.長(zhǎng)橫孔
D.V 形槽
最新試題
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
人的眼睛在強(qiáng)光下,()。
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測(cè),缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
探頭主聲束()將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。
對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有()。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)()。
與一次射線相比,散射線的()。
在氣候潮濕地區(qū)或潮濕季節(jié),儀器長(zhǎng)期不用,應(yīng)做到(),以驅(qū)除潮氣,防止儀器內(nèi)部短路或擊穿。
滲透劑檢測(cè)壓力噴灌的存放應(yīng)避免()。