A.易揮發(fā)
B.低閃點(diǎn)
C.高閃點(diǎn)
D.滲透能力弱
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A.滲透劑的最大厚度
B.滲透劑的平均厚度
C.滲透劑的最小厚度
D.滲透劑的臨界厚度
A.工藝卡
B.委托單
C.報(bào)告
D.檢測(cè)規(guī)程
A.粗晶材料中缺陷
B.大厚度工件中缺陷
C.更大的缺陷
D.更小的缺陷
A.線狀缺陷
B.平面狀缺陷
C.點(diǎn)狀缺陷
D.多重缺陷
A.坡口開(kāi)在腹板
B.坡口開(kāi)在翼板
C.不開(kāi)坡口
D.坡口開(kāi)在腹板或翼板
A.較小溫度變化引起較小電流變化
B.較大溫度變化引起較小電流變化
C.較小溫度變化引起較大電流變化
D.較大溫度變化引起較大電流變化
A.窄的發(fā)射脈沖
B.寬的發(fā)射脈沖
C.連續(xù)發(fā)射的脈沖
D.不連續(xù)發(fā)射的脈沖
A.0℃
B.5℃
C.10℃
D.15℃
A.表面圓滑過(guò)渡的缺陷
B.埋藏較深的缺陷
C.附著油污缺陷
D.表面有棱角缺陷
A.閃爍計(jì)數(shù)器
B.正比計(jì)數(shù)器
C.化學(xué)劑量計(jì)
D.固體劑量計(jì)
最新試題
探頭主聲束()將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)()。
在氣候潮濕地區(qū)或潮濕季節(jié),儀器長(zhǎng)期不用,應(yīng)做到(),以驅(qū)除潮氣,防止儀器內(nèi)部短路或擊穿。
對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有()。
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí),缺陷定位說(shuō)法正確的有()。
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是()。
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū),說(shuō)法正確的是()。
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí),()。
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。