A.工件表面滯留很多磁粉
B.形成過渡背景
C.磁痕不清晰
D.會掩蓋相關(guān)顯示
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A.斜探頭從翼板外側(cè)用直射法進行檢測
B.直探頭從腹板外側(cè)用直射法進行檢測
C.直探頭在翼板外側(cè)沿焊接接頭進行檢測
D.斜探頭在腹板一側(cè)用一次發(fā)射法進行檢測
A.適用于疏松多孔性材料
B.不適用于疏松多孔性材料
C.可以檢查閉合性的表面缺陷
D.可以檢查埋藏于表皮層以下缺陷
A.同樣產(chǎn)品可編制一個工藝卡
B.工藝卡具有可操作性
C.工藝卡一般用表、卡形式展現(xiàn)
D.覆蓋通用工藝規(guī)程內(nèi)容
A.致密類制品用常規(guī)滲透檢測方法進行檢測
B.致密類制品用過濾性微粒滲透檢測劑進行檢測
C.松孔類制品用常規(guī)滲透檢測進行檢測
D.松孔類制品用過濾性微粒滲透檢測劑方法進行檢測
A.放射性核素少
B.放射性核素多
C.易提煉
D.不易提煉
A.鐵磁質(zhì)的磁導(dǎo)率
B.相對磁導(dǎo)率
C.真空磁導(dǎo)率
D.磁化率
A.定性
B.定位
C.定量
D.定深度
A.空間分辨率
B.信噪比
C.靈敏度
D.性能價格比
A.紫外線照射
B.日光的照射
C.磷光的照射
D.受熱輻射
A.軸向通電法
B.觸頭法
C.磁軛法
D.中心導(dǎo)體法
最新試題
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補償技術(shù)是指利用()填補工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
用雙晶探頭檢測時,為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測細長缺陷應(yīng)使探頭()。
超聲波探傷儀要盡量避免在()場合使用。
聚焦聲源發(fā)射的聲場特點是()。
在沒有外加磁場作用時,鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)()現(xiàn)象。
磁場信號測量中可采用()方法。
超聲檢測時對工件無腐蝕的耦合劑是()。
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進行周向檢測時,缺陷定位說法正確的有()。
探頭主聲束()將會影響對缺陷的定位和判別。
滲透檢測時,滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強度足夠)下檢查時,下列說法正確的有()。