A、最大亮度≥100000cd/m2
B、觀察處的漫射亮度可調(diào)
C、備有遮光板,對(duì)不需要觀察或透光量過強(qiáng)的部分給予屏蔽
D、以上都是
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A、J1
B、J2
C、J3
D、以上都不是
A、60—150
B、50—175
C、40—200
D、以上都不是
A、探傷人員根據(jù)制造廠現(xiàn)有探傷人員和設(shè)備技術(shù)水平
B、設(shè)計(jì)人員
C、檢查人員
D、以上都可以
A、仍按20%探傷,但探傷方法選用射線照相,Ⅲ級(jí)合格
B、進(jìn)行100%的射線照相,母材厚度超過38mm時(shí)還應(yīng)進(jìn)行局部超聲探傷,Ⅲ級(jí)合格
C、進(jìn)行100%的射線照相,母材超過38mm時(shí)還應(yīng)進(jìn)行局部超聲探傷,Ⅱ級(jí)合格
D、以上均可
A、探傷人員
B、制造廠檢驗(yàn)部門根據(jù)實(shí)際情況
C、設(shè)計(jì)人員
D、以上均可
A、圓形缺陷是按規(guī)定評(píng)定區(qū)框線內(nèi)缺陷折算成點(diǎn)數(shù)來評(píng)定的。由于不同的評(píng)片人員使用評(píng)定區(qū)框線的誤差、框線放置的差異及測(cè)量誤差,將引起缺陷尺寸的差異,而缺陷尺寸的差異,必然引起折算點(diǎn)數(shù)的差異(如4mm折算成6點(diǎn),4.01mm折算成10點(diǎn)),就是對(duì)同一個(gè)評(píng)片人也會(huì)出現(xiàn)級(jí)別的差異,因此容器制造廠驗(yàn)收或RT人員實(shí)際考試也允許這種差異
B、雖然制造廠100%透照,由于缺陷處于底片的部位不同,特別是外透照的端部端部缺陷與中心一次全曝光的底片相比,前者缺陷拉長(zhǎng),后者缺陷較小,就是同一個(gè)評(píng)片人用同一套工具測(cè)量缺陷,也會(huì)出現(xiàn)不同的結(jié)論
C、AB均是強(qiáng)詞奪理,應(yīng)評(píng)為不合格,屬于產(chǎn)品質(zhì)量問題,退修
D、AB是對(duì)的,這屬于照相技術(shù)本身的問題,非屬產(chǎn)品質(zhì)量的問題
A、通常情況下必須選擇這樣的曝光量,這主要是限制操作者采用高管電壓(降低對(duì)比度),短焦距(降低幾何不清晰度)快速照相的不良做法,確保底片的靈敏度和X光射線機(jī)安全運(yùn)行
B、特殊情況下,不受限制
C、對(duì)于小直徑管子對(duì)接焊縫,也可采用“高能量短時(shí)間”操作,這又是一個(gè)特例
D、以上都對(duì)
A、L1≥2L3
B、L1≥3L3
C、L1≥1.5L3
D、以上都不對(duì)
A、衛(wèi)生部門辦理
B、公安部門辦理
C、環(huán)保部門辦理
D、上級(jí)主管部門辦理
A、2
B、5
C、4
D、3
最新試題
定影液在使用過程中定影劑不斷消耗,造成(),使定影速度減慢,所需的定影時(shí)間越來越長(zhǎng),此現(xiàn)象稱為定影液的老化。
筒形或環(huán)形鍛件的鍛造工藝是先鐓粗,后沖孔,再滾壓。因此,缺陷的取向比軸類鍛件和餅類鍛件中的缺陷取向復(fù)雜。所以對(duì)這類鍛件一般采用()進(jìn)行檢測(cè)。
磁性成像可分為磁場(chǎng)成像和磁性成像,對(duì)其描述正確的有()。
滲透檢測(cè)體系的分辨力是指滲透檢測(cè)體系()的能力。
滲透檢測(cè)通常在()前進(jìn)行,表面處理后局部加工時(shí)需再次檢測(cè)。
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有()。
底片靈敏度的檢查內(nèi)容包括像質(zhì)計(jì)()要達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。
金屬材料的基本力學(xué)行為是指金屬材料在不同載荷作用下產(chǎn)生一些現(xiàn)象,這種現(xiàn)象包括()。
用半價(jià)層描述的某種能量的射線是指()。
下列關(guān)于無限大固體介質(zhì)中聲速的說法錯(cuò)誤的有()。