A、未熔合
B、冷裂紋
C、熱裂紋
D、氣孔
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A、未熔合
B、未焊透
C、夾鎢
D、氣孔
A、一般
B、不好
C、良好
D、極差
A、氣孔及夾渣
B、再熱裂紋
C、咬邊及未融合
D、晶間腐蝕及熱裂紋
A、淬硬及冷裂紋
B、氣孔及咬邊
C、夾渣及未融合
D、氧化及過熱
A、預(yù)熱緩冷
B、金屬結(jié)晶過程
C、焊接熱循環(huán)
D、熱處理
A、1
B、2
C、3
D、4
A、淬硬組織
B、焊接拉應(yīng)力
C、焊接壓縮應(yīng)力
D、低熔點(diǎn)共晶物和雜質(zhì)
A、10×10
B、10×20
C、10×30
D、以上都不對
A、最大亮度≥100000cd/m2
B、觀察處的漫射亮度可調(diào)
C、備有遮光板,對不需要觀察或透光量過強(qiáng)的部分給予屏蔽
D、以上都是
A、J1
B、J2
C、J3
D、以上都不是
最新試題
確定滲透劑是否具有高的滲透能力的主要參數(shù)有()。
下列關(guān)于顯像劑粉末吸附缺陷中滲透劑的說法正確的有()。
表面活性劑分子在水或水溶液表面的吸附近于飽和時,水或水溶液的極性表面在很大程度上就被表面活性劑分子覆蓋,這時水或水溶液的()。
各種電氣設(shè)備都有各自的保護(hù)系統(tǒng),X 射線機(jī)的保護(hù)系統(tǒng)主要有()。
用縱波直探頭確定缺陷平面位置時需要考慮的問題有()。
對底片進(jìn)行評定時,首先對底片進(jìn)行質(zhì)量檢查,不滿足要求的底片不予評定,質(zhì)量檢查項目有()。
磁粉檢測用的黑光燈發(fā)出的光包含有(),而把不需要的光線用濾光片過濾掉。
下列關(guān)于無限大固體介質(zhì)中聲速的說法錯誤的有()。
板波的類型有()。
屬于γ射線探傷設(shè)備的操作故障有()。