A.質(zhì)子、電子、中子
B.質(zhì)子、電子、γ射線
C.光子、電子、中子
D.原子、質(zhì)子、電子
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A.面積大于聲束截面的當(dāng)量一定大
B.面積小于聲束截面的當(dāng)量反而大
C.當(dāng)量忽大忽小
D.以上都可能
A.回波幅度與底面反射波高度相差不大
B.底面反射完全消失
C.缺陷反射波高于底面回波
D.底波與缺陷波同時(shí)存在
A.F/B相同,缺陷當(dāng)量相同
B.該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸
C.適于對(duì)尺寸較小的缺陷定量
D.適于對(duì)密集性缺陷的定量
A.能
B.不能
C.有時(shí)能
D.觀察不到表面缺陷波
A.橫波
B.表面波
C.縱波
D.板波
A.用C掃描法對(duì)精加工好的鍛件進(jìn)行水浸自動(dòng)探傷
B.對(duì)成品件進(jìn)行手工接觸法探傷
C.對(duì)鍛前的坯料進(jìn)行檢驗(yàn),精加工后對(duì)形狀許可的部位再做檢驗(yàn)
D.只對(duì)鍛前坯料進(jìn)行檢驗(yàn)
A.第一次表面回波之前和第二次表面回波之后
B.第一次表面回波和第二次表面回波之間
C.多次回波
D.以上都不對(duì)
A.第一次底波
B.第二次底波
C.多次底波
D.缺陷的水平距離
A.28°42'
B.49°24'
C.55°18'
D.以上都不對(duì)
A.越大
B.越小
C.不變
D.以上都不對(duì)
最新試題
滲透檢測(cè)時(shí),滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時(shí),下列說(shuō)法正確的有()。
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測(cè),缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
與一次射線相比,散射線的()。
在沒(méi)有外加磁場(chǎng)作用時(shí),鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)()現(xiàn)象。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
人的眼睛在強(qiáng)光下,()。
無(wú)損檢測(cè)設(shè)備、材料采購(gòu)驗(yàn)收內(nèi)容包括()驗(yàn)收。
冷裂紋常見(jiàn)的有()。
在氣候潮濕地區(qū)或潮濕季節(jié),儀器長(zhǎng)期不用,應(yīng)做到(),以驅(qū)除潮氣,防止儀器內(nèi)部短路或擊穿。