A.可以
B.不可以
C.無(wú)法
D.以上都不對(duì)
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A.越大
B.越小
C.曝光曲線(xiàn)的斜率與透照厚度差范圍無(wú)關(guān)
D.以上都不對(duì)
A.變陡、向左移
B.變陡、向右移
C.摩擦產(chǎn)生靜電火花
D.形狀不變、左移
A.用不同感光速度的雙片法
B.提高管電壓
C.選用慢速微粒膠片
D.A、B和C
A.底片上兩個(gè)相鄰部位的黑度差
B.透照工件相鄰部位的厚度差
C.膠片反差系數(shù)
D.清晰度和靈敏度
A.試件厚度差
B.射線(xiàn)的質(zhì)
C.散射線(xiàn)
D.以上均不對(duì)
A、線(xiàn)質(zhì)變軟,強(qiáng)度變大,波長(zhǎng)不變
B、線(xiàn)質(zhì)不變,強(qiáng)度不變,波長(zhǎng)變短
C、線(xiàn)質(zhì)變硬,強(qiáng)度變大,波長(zhǎng)變長(zhǎng)
D、線(xiàn)質(zhì)不變,強(qiáng)度變大,波長(zhǎng)不變
A.其檢測(cè)靈敏度一般較X射線(xiàn)照相法低
B.對(duì)形狀復(fù)雜的零件檢查有困難
C.初始投入較高,設(shè)備較復(fù)雜
D.以上都對(duì)
A.大焦點(diǎn)、可變電位
B.大焦點(diǎn)、恒電位
C.小焦點(diǎn)、恒電位
D.以上都不對(duì)
A.質(zhì)量
B.重量
C.強(qiáng)度
D.射線(xiàn)能量
A.0.1
B.1
C.10
D.100
最新試題
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí),缺陷定位說(shuō)法正確的有()。
關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說(shuō)法正確的有()。
超聲波探傷儀要盡量避免在()場(chǎng)合使用。
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵睿谡麖埖灼秶霈F(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。
聚焦聲源發(fā)射的聲場(chǎng)特點(diǎn)是()。
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是()。
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū),說(shuō)法正確的是()。
冷裂紋常見(jiàn)的有()。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測(cè),缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。