A.lo是入射線強(qiáng)度,L是透射射線強(qiáng)度
B.lo是入射光強(qiáng)度,L是透射光強(qiáng)度
C.lo是透射射線強(qiáng)度,L是入射線強(qiáng)度
D.lo是透射光強(qiáng)度,L是入射光強(qiáng)度
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.對(duì)比度
B.清晰度
C.感光度
D.以上都不是
A.中子射線照相
B.射線CT技術(shù)
C.康普頓背散射成像技術(shù)
D.A、B和C
A.金屬表面的腐蝕裂紋
B.原子序數(shù)低、厚度小物體的層析射線照相
C.厚度很大物體的表面層內(nèi)部缺陷
D.A、B和C
A.距離
B.連線
C.直線斜率
D.以上都不是
A.不大于曝光曲線推薦的最小值
B.不小于曝光曲線推薦的最小值
C.不小于曝光曲線推薦的最大值
D.以上都不是
A、曲線的梯度
B、寬容度
C、對(duì)比度的平均梯度
D、黑度
A.射線的能量
B.幾何因素與膠片粒度
C.膠片的反差系數(shù)
D.A、B和C
A.2
B.0.45
C.3
D.2.2
A.10min
B.20min
C.30min
D.40min
A.小于80s
B.大于80s
C.等于80s
D.以上都不對(duì)
最新試題
將彎曲液面對(duì)液體的壓強(qiáng)與平面液面對(duì)液體的壓強(qiáng)相比,任何液面膜對(duì)液體施以附加壓強(qiáng),下面描述正確的是()。
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí),()。
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開口缺陷的固體污染物有()。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
超聲檢測(cè)時(shí)對(duì)工件無(wú)腐蝕的耦合劑是()。
聚焦聲源發(fā)射的聲場(chǎng)特點(diǎn)是()。
常規(guī)的縱波聲場(chǎng)或橫波聲場(chǎng),聲速是以一定的角度擴(kuò)散出去的,所以有()。
工藝評(píng)定試件焊后應(yīng)進(jìn)行()。
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?,在整張底片范圍出現(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。