A.中子射線照相
B.射線CT技術
C.康普頓背散射成像技術
D.A、B和C
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.金屬表面的腐蝕裂紋
B.原子序數(shù)低、厚度小物體的層析射線照相
C.厚度很大物體的表面層內(nèi)部缺陷
D.A、B和C
A.距離
B.連線
C.直線斜率
D.以上都不是
A.不大于曝光曲線推薦的最小值
B.不小于曝光曲線推薦的最小值
C.不小于曝光曲線推薦的最大值
D.以上都不是
A、曲線的梯度
B、寬容度
C、對比度的平均梯度
D、黑度
A.射線的能量
B.幾何因素與膠片粒度
C.膠片的反差系數(shù)
D.A、B和C
A.2
B.0.45
C.3
D.2.2
A.10min
B.20min
C.30min
D.40min
A.小于80s
B.大于80s
C.等于80s
D.以上都不對
A.能量
B.強度
C.指向性
D.工件厚度與焦距的比值
A.乳膠厚度
B.含銀量
C.溴化銀的粒度
D.電離能力
最新試題
探頭主聲束()將會影響對缺陷的定位和判別。
用雙晶探頭檢測時,為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測細長缺陷應使探頭()。
超聲檢測時對工件無腐蝕的耦合劑是()。
對滲透探傷無影響的是()。
超聲波檢測發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測,缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進行周向檢測時,缺陷定位說法正確的有()。
對漏磁檢測原理描述正確的有()。
滲透檢測時,滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強度足夠)下檢查時,下列說法正確的有()。
Z 超聲波檢測鑄件時可作為缺陷記錄的是()。
滲透劑檢測壓力噴灌的存放應避免()。