A.100~200nm
B.390~490nm
C.290~390nm
D.200~300nm
E.190~290nm
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A.使用高能射線照射
B.使用電流消除殘存電荷
C.使用顯影液、定影液重寫
D.使用清水沖洗
E.使用強(qiáng)光照射消除數(shù)據(jù)
A.IP
B.FPD
C.光電倍增管
D.攝像機(jī)
E.非晶硒
A.電子數(shù)據(jù)
B.圖像
C.聲音
D.視頻信號(hào)
E.醫(yī)學(xué)圖像及其信息
A.電信號(hào)
B.可見(jiàn)光
C.數(shù)字信號(hào)
D.高能射線
E.銀離子
A.Al3+
B.Eu2+
C.Cu2+
D.TI2+
E.Se2+
A.數(shù)字成像
B.成像載體可重復(fù)使用
C.動(dòng)態(tài)成像
D.可進(jìn)行數(shù)字圖像處理
E.可使用普通X線機(jī)球管
A.FPD
B.IP
C.CCD
D.PSL
E.Ⅱ
A.FPD
B.IP
C.CCD
D.PSL
E.Ⅱ
A.信息預(yù)處理
B.信息采集
C.消息轉(zhuǎn)化
D.信息處理
E.信息存儲(chǔ)與輸出
A.直接型
B.間接型
C.多絲正比電離室型
D.CCD型
E.光激勵(lì)發(fā)光型
最新試題
CR的中文全稱為()DR的中文全稱為()
間接DR中,位于FPD頂層的是()
應(yīng)用非晶硒和薄膜晶體管陣列技術(shù)制成的探測(cè)器是()
數(shù)字化X射線成像系統(tǒng)的量子檢測(cè)率可達(dá)()
CR系統(tǒng)用成像板(IP)來(lái)接收X線的模擬信息,然后經(jīng)過(guò)模/數(shù)轉(zhuǎn)換來(lái)實(shí)現(xiàn)影像的數(shù)字化。對(duì)IP的曝光過(guò)程就是信息采集。關(guān)于CR的信息采集敘述錯(cuò)誤的是()
透過(guò)被照體的X線照射到平板探測(cè)器的非晶硒層時(shí),由于非晶硒的導(dǎo)電特性被激發(fā)出電子-空穴對(duì),即一對(duì)正負(fù)電子。該電子-空穴對(duì)在外加偏置電壓形成的電場(chǎng)作用下被分離并反向運(yùn)動(dòng),負(fù)電子跑向偏壓的正極,正電子跑向偏壓的負(fù)極,于是形成電流。電流的大小與入射X線光子的數(shù)量成正比,這些電流信號(hào)被存儲(chǔ)在TFT的極間電容上。每個(gè)TFT形成一個(gè)采集圖像的最小單元,即像素。每個(gè)像素區(qū)內(nèi)有一個(gè)場(chǎng)效應(yīng)管,在讀出該像素單元電信號(hào)時(shí)起開關(guān)作用。在讀出控制信號(hào)的控制下,開關(guān)導(dǎo)通,把存儲(chǔ)于電容內(nèi)的像素信號(hào)逐一按順序讀出、放大,送到A/D轉(zhuǎn)換器,從而將對(duì)應(yīng)的像素電荷轉(zhuǎn)化為數(shù)字化圖像信號(hào)。關(guān)于該平板探測(cè)器的敘述錯(cuò)誤的是()
CR系統(tǒng)中,直接記錄X線影像信息的載體是()DR使用的檢測(cè)裝置是()
直接平板探測(cè)器的線性度范圍是()
關(guān)于CR的工作原理,正確的是()
屏/片系統(tǒng)成像與數(shù)字平板X線攝影的共同之處是()