A、1/2波長的整數(shù)倍時(shí)
B、1/2波長的奇數(shù)倍時(shí)
C、1/4波長的奇數(shù)倍時(shí)
D、1/4波長的整數(shù)倍時(shí)
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你可能感興趣的試題
A、tp=1+rp
B、R=rp2
C、D=1-rp2
D、以上都不對(duì)
A、(Z2-Z1)/(Z1+Z2)
B、2Z2/(Z1+Z2)
C、4Z1×Z2/(Z1+Z2)2
D、[(Z2-Z1)/(Z1+Z2)]2
A、1/2波長的整數(shù)倍時(shí)
B、1/2波長的奇數(shù)倍時(shí)
C、1/4波長的奇數(shù)倍時(shí)
D、1/4波長的整數(shù)倍時(shí)
A、底波被較大的面積性缺陷反射
B、底波被較小的單個(gè)球狀缺陷反射
C、底波的能量被轉(zhuǎn)換為電能而吸收
D、以上都可能
A、3200和3200
B、3200和5900
C、5900和5900
D、以上都不對(duì)
A、特性
B、形狀
C、方向
D、以上都不對(duì)
A、橫向和縱向兩種振動(dòng)的合成
B、直線振動(dòng)
C、斜振動(dòng)
D、S振動(dòng)
A、按質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向分類
B、按波的形狀分類
C、按振動(dòng)所持續(xù)的時(shí)間分類
D、以上都對(duì)
A、波高
B、能量
C、持續(xù)時(shí)間
D、波幅高度
最新試題
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的()
用于測量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì),其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測量黑光。
對(duì)于長條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
各類渦流檢測儀器的工作原理和()是相同的。
()件對(duì)不同類型的檢測對(duì)象和要求,采用的方式各有不同。
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生()
在聲束垂直試件表面時(shí),所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí),如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的()