A、探頭耦合面幾何尺寸來決定
B、根據(jù)試塊材料決定
C、幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到4λ以上
D、以上都不對
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你可能感興趣的試題
A、底波計算法
B、試塊法
C、通用AVG曲線法
D、以上都可以
A、直探頭
B、斜探頭
C、雙晶探頭
D、以上都可以
A、1MHzφ14mm
B、2.5MHzφ14mm
C、1MHzφ20mm
D、25MHzφ30mm
A、無背襯石英探頭
B、帶酚醛樹脂背襯的石英探頭
C、帶酚醛樹脂背襯的鈦酸鋇探頭
D、帶環(huán)氧樹脂背襯的硫酸鋰探頭
A、頻率為2.5MHz
B、圓晶片直徑為20㎜
C、晶片材料為鈦酸鋇陶瓷
D、以上都對
A、電源電路、同步電路
B、發(fā)射電路、時基掃描電路
C、接收電路、顯示電路
D、以上都是
A、探測頻率
B、缺陷方向
C、缺陷部位
D、鋼板的厚度
A、機電耦合系數(shù)
B、壓電應(yīng)變常數(shù)
C、壓電電壓常數(shù)
D、機械品質(zhì)因子
A、機電耦合系數(shù)
B、壓電應(yīng)變常數(shù)
C、機械品質(zhì)因子
D、壓電電壓常數(shù)
A、機電耦合系數(shù)
B、機械品質(zhì)因子
C、壓電應(yīng)變常數(shù)
D、壓電壓常數(shù)
最新試題
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動,即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
對于圓盤形試件,常沿()在圓面上進行掃查。
各類渦流檢測儀器的()和結(jié)構(gòu)各不相同。
對于長條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。
特性是指實體所特有的性質(zhì),它反映子實體滿足需要的()
對檢測儀的時間基線進行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
鑄件超聲檢測的特點是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應(yīng)的可檢缺陷尺寸()
根據(jù)檢測對象和目的的不同,渦流檢測儀器一般可分為()、渦流電導儀和渦流測厚儀三種。
無損探傷檢測采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長范圍為()mm,峰值波長為365mm。