單項(xiàng)選擇題下列()情況要求選用大顆粒的X射線底片。

A、最快的速度
B、較長(zhǎng)的曝光時(shí)間
C、低的黑度
D、最好的清晰度


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1.單項(xiàng)選擇題X射線管內(nèi)必須達(dá)到高真空的原因是()。

A、防止電極氧化
B、防止氣體電離
C、提高電極間的絕緣能力
D、以上都是

3.單項(xiàng)選擇題周向曝光檢驗(yàn)環(huán)焊縫時(shí),像質(zhì)計(jì)()。

A、放置一只
B、在180°象限內(nèi)各放1只
C、至少均勻放3只
D、根據(jù)黑度要求而定

4.單項(xiàng)選擇題Χ射線管聚焦杯起電子透鏡的作用,聚焦杯如何限制電子束尺寸?()。

A、俘獲燈絲發(fā)射的雜散電子
B、限制燈絲電流的最大安培值;
C、減少靶散射的二次電子在玻璃管壁上產(chǎn)生的負(fù)電荷
D、與負(fù)電位相接

5.單項(xiàng)選擇題攜帶式X射線設(shè)備常用()。

A、倍壓電路
B、半波自整流電路
C、全波整流電路
D、以上都不是

6.單項(xiàng)選擇題產(chǎn)生高能Χ射線的設(shè)備有()。

A、靜電加速器
B、加旋加速器
C、直線加速器
D、以上都是

7.單項(xiàng)選擇題膠片特性曲線上的斜率定義為梯度G,也稱反差系數(shù),它的數(shù)值為()。

A、一個(gè)變數(shù)
B、一個(gè)常數(shù)
C、在某一黑度范圍是常數(shù)
D、以上都不是

8.單項(xiàng)選擇題底片反差是指()。

A、底片上相鄰區(qū)域的曝光量差
B、底片上相鄰區(qū)域的黑度差
C、膠片特性曲線的r值
D、曝光曲線上的tgQ值

9.單項(xiàng)選擇題根據(jù)X射線膠片特性曲線的斜率可以知道膠片的()特性。

A、靈敏度
B、曝光量
C、黑度
D、對(duì)比度

10.單項(xiàng)選擇題膠片特性曲線的橫坐標(biāo)表示()。

A、底片黑度
B、曝光量
C、曝光量的對(duì)數(shù)
D、底片黑度的對(duì)數(shù)

最新試題

無損探傷檢測(cè)采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長(zhǎng)范圍為()mm,峰值波長(zhǎng)為365mm。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時(shí),移動(dòng)探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量()測(cè)量功能的通用型儀器。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng),即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

直接射向缺陷的波就是()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)波束不再與缺陷相遇,則回波()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題