A、一個變數(shù)
B、一個常數(shù)
C、在某一黑度范圍是常數(shù)
D、以上都不是
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A、底片上相鄰區(qū)域的曝光量差
B、底片上相鄰區(qū)域的黑度差
C、膠片特性曲線的r值
D、曝光曲線上的tgQ值
A、靈敏度
B、曝光量
C、黑度
D、對比度
A、底片黑度
B、曝光量
C、曝光量的對數(shù)
D、底片黑度的對數(shù)
A、60Co
B、220kVpX射線
C、15MeVX射線
D、192Ir
A、相同
B、弱
C、強
D、以上都可能
A、管電流
B、管電壓
C、曝光時間
D、焦距
A、管電流
B、管電壓
C、曝光時間
D、焦距
A、射線太硬
B、顯影不足
C、顯影液陳舊失效
D、以上都對
A、源的強度
B、源的尺寸
C、源的使用時間
D、源的種類
A、質(zhì)量數(shù)相同,中子數(shù)不同的元素
B、質(zhì)量數(shù)不同,中子數(shù)相同的元素
C、質(zhì)子數(shù)相同,中子數(shù)不同的元素
D、中子數(shù)相同,質(zhì)子數(shù)不同的元素
最新試題
對于長條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
用于測量黑光強度的現(xiàn)代黑光輻射照度計,其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測量黑光。
無損探傷檢測采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長范圍為()mm,峰值波長為365mm。
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動,即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
在聲束垂直試件表面時,所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
對于圓盤形試件,常沿()在圓面上進行掃查。
渦流檢測線圈的互感線圈一般由()構(gòu)成。
波束截面中心聲能(),隨著與中心的距離的增大,聲能()
鑄件超聲檢測的特點是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應(yīng)的可檢缺陷尺寸()