A、底片黑度
B、曝光量
C、曝光量的對數(shù)
D、底片黑度的對數(shù)
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A、60Co
B、220kVpX射線
C、15MeVX射線
D、192Ir
A、相同
B、弱
C、強
D、以上都可能
A、管電流
B、管電壓
C、曝光時間
D、焦距
A、管電流
B、管電壓
C、曝光時間
D、焦距
A、射線太硬
B、顯影不足
C、顯影液陳舊失效
D、以上都對
A、源的強度
B、源的尺寸
C、源的使用時間
D、源的種類
A、質(zhì)量數(shù)相同,中子數(shù)不同的元素
B、質(zhì)量數(shù)不同,中子數(shù)相同的元素
C、質(zhì)子數(shù)相同,中子數(shù)不同的元素
D、中子數(shù)相同,質(zhì)子數(shù)不同的元素
A、電子
B、中子
C、質(zhì)子
D、原子
A、64%
B、36%
C、20%
D、80%
A、抑制劑
B、顯影劑
C、加速劑
D、保護(hù)劑
最新試題
各類渦流檢測儀器的工作原理和()是相同的。
無損探傷檢測采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長范圍為()mm,峰值波長為365mm。
在聲束垂直試件表面時,所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
渦流檢測線圈的自感式線圈由()構(gòu)成。
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的()
渦流檢測線圈的互感線圈一般由()構(gòu)成。
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號的同時具備探傷、電導(dǎo)率測量()測量功能的通用型儀器。
對于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
當(dāng)波束不再與缺陷相遇,則回波()