A.單獨(dú)布置
B.室內(nèi)光線明亮
C.室內(nèi)光線偏暗
D.和其他工作室隔離
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A.物體的體積
B.物體的形態(tài)
C.物體的物態(tài)
D.物體材質(zhì)特性
A.脈沖寬度較寬
B.脈沖寬度較小
C.靈敏度低
D.靈敏度高
A.使用黑光燈,暗區(qū)內(nèi)觀察
B.可見光照度不大于20lx
C.可以戴光敏晶片的眼鏡
D.可以戴防紫外光的眼鏡
A.發(fā)射電路
B.接收電路
C.顯示電路
D.同步電路
A.聲束特性
B.水平線性
C.垂直線性
D.動(dòng)態(tài)范圍
A.必須按程序操作
B.有專人負(fù)責(zé)保管
C.單獨(dú)存放
D.使用前不需要檢查
A.外徑大于159mm
B.外徑小于159mm
C.壁厚大于等于20mm
D.壁厚小于等于20mm
A.電子束聚成很細(xì)的一束
B.電子束聚成很小的一點(diǎn)
C.獲得小于0.1mm 微小焦點(diǎn)
D.獲得大于0.1mm 微小焦點(diǎn)
A.檢測(cè)效率高
B.不易磁化
C.無(wú)退磁場(chǎng)產(chǎn)生
D.形成縱向磁場(chǎng)
A.平行管軸的縱向缺陷
B.垂直管軸的縱向缺陷
C.平行管軸的橫向缺陷
D.垂直管軸的橫向缺陷
最新試題
關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說(shuō)法正確的有()。
滲透檢測(cè)時(shí),滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時(shí),下列說(shuō)法正確的有()。
超聲檢測(cè)時(shí)對(duì)工件無(wú)腐蝕的耦合劑是()。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
超聲波探傷儀要盡量避免在()場(chǎng)合使用。
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí),()。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
與一次射線相比,散射線的()。
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。