A.偶然符合在低計數(shù)率情況下更常見
B.偶然符合的事件同時發(fā)生且相關(guān)
C.偶然的情況下同時到達符合電路的非關(guān)聯(lián)事件引起的符合
D.不相關(guān)的事件都可以認為屬于偶然符合
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A.符合曲線是指延遲關(guān)系變化時，符合計數(shù)率的變化曲線
B.信號的時間離散對符合曲線有影響
C.理想的電子學(xué)瞬時符合曲線是矩形的
D.符合分快符合與慢符合，快符合的符合曲線寬度主要由電子學(xué)分辨時間決定
A.延遲符合改變了相關(guān)事件發(fā)生的物理過程
B.延遲符合的順利實現(xiàn)需要對相關(guān)事件的物理過程有深入了解
C.延遲符合功能可以通過電子學(xué)系統(tǒng)實現(xiàn)的
D.相關(guān)事件不同時時，一般可以考慮利用延遲符合技術(shù)
A.反符合電路利用“或”門來實現(xiàn)
B.反符合中的兩個事件必須是完全無關(guān)的
C.反符合的功能可以利用多個探測器實現(xiàn)
D.反符合與符合在電路設(shè)計、探測器信號連接上都完全不同
A.這兩個或多個事件的發(fā)生是完全相關(guān)的
B.符合分辨時間是為方便電子學(xué)實現(xiàn)而引入的，真符合的事件必定發(fā)生在同一時刻
C.真符合中的兩個事件發(fā)生的時刻可以是近似同時
D.符合電路利用“與”門來實現(xiàn)
A.符合事件指的是同時發(fā)生的兩個或多個事件
B.同時發(fā)生的兩個事件若沒有因果關(guān)系，不能算符合
C.同時指的是同一時刻，而不是一個時間段內(nèi)，所以實際中的符合非常少見
D.符合可以用在粒子甄別上，但是反符合不行
A.坪斜修正可以降低工作電壓偏高對結(jié)果的影響
B.高Z材料會加強反散射效果，所以要用低Z材料做源托
C.β射線在介質(zhì)中的被吸收規(guī)律近似服從指數(shù)規(guī)律
D.β射線穿透力強于α粒子，故而不需要考慮源的自吸收問題
A.不能用小立體角法測量
B.需要考慮軔致輻射效應(yīng)
C.需要考慮電子散射問題
D.不需要真空的測量環(huán)境
A.不需要考慮源的自吸收
B.厚樣品在實際中很少見
C.樣品厚度達到一定值后，再增大其厚度，測量的活度基本不變
D.樣品不同位置薄層中的α粒子出射的概率是一樣的
A.探測腔室一般要抽真空
B.為提高探測效率，α源要盡可能貼近探測器
C.源發(fā)射α粒子是各向同性的
D.一般可以作為點源處理
A.由于吸收作用，探測器的窗對活度測量會有影響
B.α源與探測器間的空氣也會影響測量的活度結(jié)果
C.對于β射線的測量，散射情況一般需要考慮
D.由于反散射的影響，需要用高Z材料做β源托，降低反散射
最新試題
下列哪項不屬于中子探測方法？（）
測量活度有相對法與絕對法，下列描述錯誤的是（）。
關(guān)于加速器中子源，描述錯誤的是（）。
下列關(guān)于反符合的描述正確的是（）。
對于β射線活度測量的諸多修正的描述錯誤的是（）。
關(guān)于24Na-9Be中子源的描述不正確的是（）。
測量能量10keV的γ射線，觀察到了在20keV處有一個明顯的峰，對于這些計數(shù)的分析正確的是（）。
中子與物質(zhì)的相互作用不包括以下哪一種？（）
吸收和散射對探測器活度測量也有影響，下列說法錯誤的是（）。
下列關(guān)于符合曲線描述錯誤的是（）。