A.清晰
B.密集
C.完整
D.規(guī)則
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A.位置
B.方向
C.大小
D.尺寸大小
A.一級修
B.二級修
C.三級修
D.四級修
A.軸型
B.軸號
C.制造年月、單位
D.首末次組裝日期、單位
A.設(shè)備性能不穩(wěn)定不探
B.除銹不徹底不探
C.輪對收入狀況不明不探
D.探傷系統(tǒng)不穩(wěn)定不探
A.0.7mT
B.7Gs
C.1.0mT
D.10Gs
A.0.7mT
B.7Gs
C.1.0mT
D.10Gs
A.不封閉“○”形磁痕
B.封閉“○”形磁痕
C.不完整“+”字形磁痕
D.“+”字溝槽不清晰
A.最小測量值
B.最大測量值
C.量程倍數(shù)
D.修正系數(shù)
A.最小測量值
B.最大測量值
C.量程倍數(shù)
D.修正系數(shù)
A.皂化液
B.防銹劑
C.分散劑
D.消泡劑
最新試題
二次波檢測是一種特殊的檢測工藝,以下關(guān)于二次波檢測的做敘述,哪一條是錯誤的()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測的是()
康普頓效應(yīng)對射線檢測的影響包括()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
一個均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
使用變型波檢測的一個優(yōu)點(diǎn)是()