A.飽和點(diǎn)
B.磁場(chǎng)
C.鐵磁性
D.順磁性
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.裂紋
B.發(fā)紋
C.劃傷
D.擦傷
A.安培/米
B.米/安培
C.特斯拉
D.高斯
A.疲勞裂紋
B.發(fā)紋
C.冷隔
D.非金屬夾雜物
A.位置
B.性質(zhì)
C.長(zhǎng)度
D.深度
A.防止磁粉冷凝
B.防止設(shè)備腐蝕
C.保證工件潤(rùn)濕
D.減少水的需要量
A.安培
B.安匝
C.瓦特
D.歐姆
A.膠帶紙可以遮蓋試片刻槽部位
B.試片刻槽面應(yīng)與零部件表面密貼
C.“+”刻槽中應(yīng)有一條刻槽與被探測(cè)零部件的中心線(xiàn)平行
D.用膠帶沿試片四周呈“井”字形將試片粘貼牢固、平整
A.3.14倍
B.1.57倍
C.2倍
D.1.41倍
A.干法探傷
B.濕法探傷
C.渦流探傷
D.以上都不對(duì)
A.縱向磁場(chǎng)
B.環(huán)形磁場(chǎng)
C.交變磁場(chǎng)
D.螺旋形磁場(chǎng)
最新試題
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿(mǎn)足()
當(dāng)射線(xiàn)穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變()
不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)()
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
對(duì)于鉬靶X射線(xiàn)管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線(xiàn)的。
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。