A.殘差項之間完全正相關(guān),d≈0
B.殘差項之間完全不相關(guān),d≈2
C.殘差項之間完全負相關(guān),d≈4
D.適合檢驗自回歸模型
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A.戈里瑟檢驗
B.馮諾曼比檢驗
C.回歸檢驗
D.DW檢驗
A.利用OLS法得到回歸估計量是線性、無偏的
B.利用OLS法得到回歸估計量不是有效的
C.T檢驗和F檢驗的結(jié)果不可靠
D.擬合程度R2能測度樣本點與樣本回歸函數(shù)之間真實情況
A.時間序列數(shù)據(jù)的回歸模型要注意檢驗殘差項的自相關(guān)性
B.截面數(shù)據(jù)的回歸模型要注意檢驗殘差項的自相關(guān)性
C.u^t=p*u^t-1+vi是滯后一階的自回歸模型
D.模型Yt=b1+b2pt-1+ut殘差項容易產(chǎn)生自相關(guān)性
A.經(jīng)濟數(shù)據(jù)的慣性作用
B.規(guī)模效應
C.數(shù)據(jù)的平滑、外推和內(nèi)插
D.選擇的模型偏誤
A.異方差Park和Glejser檢驗法都給出了可參考的方差結(jié)構(gòu)
B.利用Park和Glejser檢驗的方差結(jié)構(gòu)一定能有效消除異方差
C.Glejser檢驗結(jié)出的方差結(jié)構(gòu)比較粗糙
D.在經(jīng)濟學中,通常對變量取對數(shù)或變量變換來修改異方差
A.方差=A*Xi,選擇權(quán)重W=1/(Xi)^(-0.5)
B.方差=A*Xi2,選擇權(quán)重W=1/Xi
C.方差=A*f(Xi),選擇權(quán)重W=1/f(Xi)^(-0.5)
D.方差=A*f(Xi),選擇權(quán)重W=1/(Xi)^(-0.5)
A.不同Xi所對應的總體殘差方差已知,利用加權(quán)最小二乘法來消除異方差
B.不同Xi所對應的樣本殘差的方差結(jié)構(gòu)已知,利用GLS來消除或降低異方差
C.不同Xi所對應的樣本殘差的方差結(jié)構(gòu)已知,利用OLS法來消除異方差
D.根據(jù)具體問題,可以考慮選擇不同的模型變換來消除異方差性
A.Yi^為負數(shù),而B2為偶數(shù),Park檢驗依然可行
B.對ui^2=B1*(Yi^)B2兩邊取自然對數(shù)線性化,然后再檢驗
C.原假設(shè):B2=0,拒絕了原假設(shè),則說明存在異方差
D.Park檢驗法還檢驗了異方差的結(jié)構(gòu)形式
A.圖示驗法
B.回歸檢驗法
C.White檢驗法
D.DW檢驗
A.異方差性
B.多重共線性
C.序列相關(guān)
D.設(shè)定誤差
最新試題
如何通過樣本觀測值正確的估計總體模型中的參數(shù),是計量經(jīng)濟學的重要內(nèi)容。
請論述計量經(jīng)濟學在現(xiàn)代經(jīng)濟研究中的應用及其重要性。
在簡單線性回歸模型y=β0+β1x+u中,假定E(u)≠0。令α0=E(u)。證明:這個模型總可以改寫為另一種形式:斜率與原來相同,但截距和誤差有所不同,并且新的誤差期望值為零。
計量經(jīng)濟建模的最終目的是為了正確的估計出參數(shù)。
關(guān)于X和Y兩個變量的樣本相關(guān)系數(shù),說法錯誤的是()
對于被解釋變量平均值預測與個別值預測區(qū)間,()。
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下列哪些是處理內(nèi)生性問題的方法? ()
由于簡單線性回歸與現(xiàn)實經(jīng)濟現(xiàn)象相關(guān)很遠,因此預測沒有任何意義。
計量模型()。