A.λ=ch
B.λ=c/v
C.λ=hv
D.λ=cv
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A.R/h•ci
B.R/m•s•ci
C.m•R/h•ci
D.R/m•h•ci(注:1ci=3.7*1010Bg)
A.Is/I
B.Is/I0
C.I/I0
D.I0/I
A.本底灰霧度
B.原始灰霧度
C.膠片固有灰霧度
D.A、B和C
A.黑度
B.價格
C.重量
D.以上都不對
A.很長
B.很短
C.適中
D.無間隔
A.衰退
B.電離
C.潛影
D.照射
A.能夠直接被肉眼觀察到
B.在紅燈下能夠被肉眼觀察到
C.需要經(jīng)過電信號轉(zhuǎn)化成圖象
D.以上都不是
A.α
B.β
C.γ
D.A、B和C
A.直接在熒光屏顯示缺陷圖象
B.利用熒光增感屏+X射線膠片曝光
C.再使用X射線膠片曝光
D.以上都不對
A.點(diǎn)狀斑紋
B.冠狀斑紋
C.樹枝狀斑紋
D.A、B和C
最新試題
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?,在整張底片范圍出現(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。
工藝評定試件焊后應(yīng)進(jìn)行()。
關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說法正確的有()。
對滲透探傷無影響的是()。
非熒光磁粉檢測時,可見光照度不小于1000lx,并應(yīng)避免()。
滲透檢測工藝對顯像操作的要求有()。
滲透檢測時,滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時,下列說法正確的有()。
用雙晶探頭檢測時,為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測細(xì)長缺陷應(yīng)使探頭()。
阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開口缺陷的固體污染物有()。
磁場信號測量中可采用()方法。