A.連續(xù)X射線譜形
B.特征X射線譜形
C.連續(xù)和特征X射線譜形
D.以上都不是
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A.300kV峰值
B.300kV平均值
C.300kV有效值
D.300kV均方根值
A.Is/I
B.Is/Ip
C.I/Is
D.Ip/Is
A.單色窄線束
B.連續(xù)標(biāo)識(shí)X線束
C.寬束連續(xù)X線束
D.A、B和C
A.1.0%
B.1.4%
C.2.0%
D.0.7%
A.遠(yuǎn)離射線源一側(cè)的工件表面上
B.靠近射線源一側(cè)的工件表面上
C.膠片暗盒表面上
D.A、B和C
A.光子數(shù)
B.正電荷數(shù)
C.中子數(shù)+電子數(shù)
D.以上都不對(duì)
A.分子
B.中子
C.電子
D.離子
A.27
B.33
C.60
D.87
A.射線直接曝光
B.采用熒光增感
C.采用鉛箔增感
D.以上都不對(duì)
A.感光速度增高
B.黑度增大
C.灰霧度增大
D.漏光
最新試題
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說法正確的有()。
化學(xué)反應(yīng)型著色滲透劑的特點(diǎn)是()。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開口缺陷的固體污染物有()。
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
在沒有外加磁場(chǎng)作用時(shí),鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)()現(xiàn)象。
冷裂紋常見的有()。
滲透檢測(cè)時(shí),滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時(shí),下列說法正確的有()。
與一次射線相比,散射線的()。