底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關系是（）

一個均勻的輻射光束強度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質，其強度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

康普頓效應對射線檢測的影響包括（）

以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響（）

若評片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>

底片清晰度與膠片顆粒度的關系是（）

探頭的分辨力（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測的是（）

以下試塊中，能用于測定縱波直探頭分辨力的是（）

對于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時是不會產生特征X射線的。