A、管電流
B、管電壓
C、曝光時(shí)間
D、焦距
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你可能感興趣的試題
A、射線太硬
B、顯影不足
C、顯影液陳舊失效
D、以上都對(duì)
A、源的強(qiáng)度
B、源的尺寸
C、源的使用時(shí)間
D、源的種類
A、質(zhì)量數(shù)相同,中子數(shù)不同的元素
B、質(zhì)量數(shù)不同,中子數(shù)相同的元素
C、質(zhì)子數(shù)相同,中子數(shù)不同的元素
D、中子數(shù)相同,質(zhì)子數(shù)不同的元素
A、電子
B、中子
C、質(zhì)子
D、原子
A、64%
B、36%
C、20%
D、80%
A、抑制劑
B、顯影劑
C、加速劑
D、保護(hù)劑
A、亞硫酸鈉
B、溴化鉀
C、菲尼酮
D、碳酸鈉
A、加速顯影作用
B、保護(hù)顯影作用
C、抑制灰霧生成
D、堅(jiān)膜作用
A、感光度
B、管電流
C、膠片反差系數(shù)
D、以上都對(duì)
A、25
B、12.5
C、6.25
D、3.125
最新試題
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
在遠(yuǎn)場區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()
鋁合金電導(dǎo)率的渦流檢測中硬度檢驗(yàn)是一種()方法。
當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時(shí),移動(dòng)探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì),它反映子實(shí)體滿足需要的()
掃查方式一般視試件的()而定。
對(duì)于長條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生()
對(duì)檢測儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。