A、結(jié)構(gòu)反射和變型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部
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A、側(cè)壁干擾
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都對
A、應使用直探頭
B、要使用大晶片探頭
C、壓電元件應在其基頻上激發(fā)
D、探頭的頻帶應盡可能寬
A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不對
A、探頭耦合面幾何尺寸來決定
B、根據(jù)試塊材料決定
C、幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到4λ以上
D、以上都不對
A、底波計算法
B、試塊法
C、通用AVG曲線法
D、以上都可以
A、直探頭
B、斜探頭
C、雙晶探頭
D、以上都可以
A、1MHzφ14mm
B、2.5MHzφ14mm
C、1MHzφ20mm
D、25MHzφ30mm
A、無背襯石英探頭
B、帶酚醛樹脂背襯的石英探頭
C、帶酚醛樹脂背襯的鈦酸鋇探頭
D、帶環(huán)氧樹脂背襯的硫酸鋰探頭
A、頻率為2.5MHz
B、圓晶片直徑為20㎜
C、晶片材料為鈦酸鋇陶瓷
D、以上都對
A、電源電路、同步電路
B、發(fā)射電路、時基掃描電路
C、接收電路、顯示電路
D、以上都是
最新試題
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動,即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
渦流檢測線圈是在被檢測導電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生()
渦流探傷中平底盲孔缺陷對于管壁的()具有較好的代表性,因此在在役管材的渦流檢測中較多采用。
采用以()為橫坐標,以平底孔直徑標注各當量曲線作成實用AVG曲線。
鑄件超聲檢測的特點是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應的可檢缺陷尺寸()
()件對不同類型的檢測對象和要求,采用的方式各有不同。
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
各類渦流檢測儀器的()和結(jié)構(gòu)各不相同。
磁性測厚技術(shù)包括機械式和()兩種測量方法。
對檢測儀的時間基線進行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。