A、特征X射線
B、示性X射線
C、熒光輻射
D、以上都對(duì)
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A、本征X射線
B、示性X射線
C、標(biāo)識(shí)X射線
D、連續(xù)X射線
A、本征X射線
B、示性X射線
C、標(biāo)識(shí)X射線
D、以上都是
A、中子
B、分子
C、光子
D、光子、中子
A、1.6726×10-24克
B、3.167×10-27克
C、9.109×10-31克
D、5.478×10-24克
A、像質(zhì)計(jì)
B、膠片
C、評(píng)定尺
D、增感屏
A、報(bào)警電路
B、接收電路
C、同步電路
D、時(shí)基電路
A、鍛件
B、棒坯
C、鑄錠
D、薄板
A、粗糙表面回波幅度高
B、無(wú)影響
C、光滑表面回波幅度高
D、以上都可能
A、耦合不良
B、存在與聲束不垂直的缺陷
C、存在與始脈沖不能分開(kāi)的近表面缺陷
D、以上都可能
A、采用當(dāng)量試塊比較法測(cè)定的結(jié)果
B、對(duì)大于聲束的缺陷,采用底波對(duì)比而測(cè)得的結(jié)果
C、根據(jù)缺陷反射波高和探頭移動(dòng)的距離而測(cè)得的結(jié)果
D、缺陷定量法之一,和AVG曲線的原理相同
最新試題
掃查方式一般視試件的()而定。
對(duì)于圓盤(pán)形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
渦流探傷中平底盲孔缺陷對(duì)于管壁的()具有較好的代表性,因此在在役管材的渦流檢測(cè)中較多采用。
缺陷檢測(cè)即通常所說(shuō)的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
鋁合金電導(dǎo)率的渦流檢測(cè)中硬度檢驗(yàn)是一種()方法。
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量()測(cè)量功能的通用型儀器。
對(duì)于長(zhǎng)條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
無(wú)損探傷檢測(cè)采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長(zhǎng)范圍為()mm,峰值波長(zhǎng)為365mm。
對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng),即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì),它反映子實(shí)體滿足需要的()