A、報警電路
B、接收電路
C、同步電路
D、時基電路
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、鍛件
B、棒坯
C、鑄錠
D、薄板
A、粗糙表面回波幅度高
B、無影響
C、光滑表面回波幅度高
D、以上都可能
A、耦合不良
B、存在與聲束不垂直的缺陷
C、存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷
D、以上都可能
A、采用當量試塊比較法測定的結果
B、對大于聲束的缺陷,采用底波對比而測得的結果
C、根據缺陷反射波高和探頭移動的距離而測得的結果
D、缺陷定量法之一,和AVG曲線的原理相同
A、窄脈沖
B、衰減
C、波型轉換
D、粗晶
A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、雜波
A、結構反射和變型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部
A、側壁干擾
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都對
A、應使用直探頭
B、要使用大晶片探頭
C、壓電元件應在其基頻上激發(fā)
D、探頭的頻帶應盡可能寬
A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不對
最新試題
對于長條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關信息。
渦流檢測中的對比試樣的()和材質相對被檢測產品必須具有代表性。
用于測量黑光強度的現代黑光輻射照度計,其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測量黑光。
鑄件超聲檢測的特點是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應的可檢缺陷尺寸()
當缺陷面積大于聲束截面時,如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的()
在遠場區(qū),當缺陷比聲束截面小時,缺陷波高與缺陷面積成()
渦流檢測線圈是在被檢測導電材料或零件表面及近表面激勵產生()
隨著渦流檢側儀器制造技術的發(fā)展,出現了多種型號的同時具備探傷、電導率測量()測量功能的通用型儀器。
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠場區(qū)內的縱波直探頭在試件表面移動,即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。