A、粗糙表面回波幅度高
B、無影響
C、光滑表面回波幅度高
D、以上都可能
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A、耦合不良
B、存在與聲束不垂直的缺陷
C、存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷
D、以上都可能
A、采用當量試塊比較法測定的結果
B、對大于聲束的缺陷,采用底波對比而測得的結果
C、根據缺陷反射波高和探頭移動的距離而測得的結果
D、缺陷定量法之一,和AVG曲線的原理相同
A、窄脈沖
B、衰減
C、波型轉換
D、粗晶
A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、雜波
A、結構反射和變型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部
A、側壁干擾
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都對
A、應使用直探頭
B、要使用大晶片探頭
C、壓電元件應在其基頻上激發(fā)
D、探頭的頻帶應盡可能寬
A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不對
A、探頭耦合面幾何尺寸來決定
B、根據試塊材料決定
C、幾何尺寸可能產生的干擾雜波必須比參考回波遲到4λ以上
D、以上都不對
A、底波計算法
B、試塊法
C、通用AVG曲線法
D、以上都可以
最新試題
無損探傷檢測采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長范圍為()mm,峰值波長為365mm。
對檢測儀的時間基線進行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
采用以()為橫坐標,以平底孔直徑標注各當量曲線作成實用AVG曲線。
隨著渦流檢側儀器制造技術的發(fā)展,出現了多種型號的同時具備探傷、電導率測量()測量功能的通用型儀器。
特性是指實體所特有的性質,它反映子實體滿足需要的()
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
各類渦流檢測儀器的工作原理和()是相同的。
當波束不再與缺陷相遇,則回波()
渦流檢測線圈是在被檢測導電材料或零件表面及近表面激勵產生()
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導率、磁導率、邊條效應、提離效應等。