A、采用當量試塊比較法測定的結(jié)果
B、對大于聲束的缺陷,采用底波對比而測得的結(jié)果
C、根據(jù)缺陷反射波高和探頭移動的距離而測得的結(jié)果
D、缺陷定量法之一,和AVG曲線的原理相同
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A、窄脈沖
B、衰減
C、波型轉(zhuǎn)換
D、粗晶
A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、雜波
A、結(jié)構(gòu)反射和變型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部
A、側(cè)壁干擾
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都對
A、應使用直探頭
B、要使用大晶片探頭
C、壓電元件應在其基頻上激發(fā)
D、探頭的頻帶應盡可能寬
A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不對
A、探頭耦合面幾何尺寸來決定
B、根據(jù)試塊材料決定
C、幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到4λ以上
D、以上都不對
A、底波計算法
B、試塊法
C、通用AVG曲線法
D、以上都可以
A、直探頭
B、斜探頭
C、雙晶探頭
D、以上都可以
A、1MHzφ14mm
B、2.5MHzφ14mm
C、1MHzφ20mm
D、25MHzφ30mm
最新試題
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
采用以()為橫坐標,以平底孔直徑標注各當量曲線作成實用AVG曲線。
渦流檢測線圈是在被檢測導電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生()
渦流檢測線圈的自感式線圈由()構(gòu)成。
渦流檢測線圈的互感線圈一般由()構(gòu)成。
當波束不再與缺陷相遇,則回波()
無損探傷檢測采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長范圍為()mm,峰值波長為365mm。
渦流檢測線圈感應和接收材料或零件中感生渦流的再生磁場的傳感器,它是構(gòu)成()系統(tǒng)的重要組成部分,對于檢測結(jié)果的好壞起著重要的作用。
對檢測儀的時間基線進行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
鋁合金電導率的渦流檢測中硬度檢驗是一種()方法。