A、光電效應(yīng)
B、康普頓效應(yīng)
C、電子對生成效應(yīng)
D、電離效應(yīng)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、射線源種類或管電壓有關(guān)
B、被檢材料種類和密度
C、X光管陽極靶原子序數(shù)有關(guān)
D、被檢材料的原子序數(shù)
A、光電效應(yīng)
B、康普頓效應(yīng)
C、湯姆遜效應(yīng)
D、電子對生成效應(yīng)
A、hvεj
B、hv.εj
C、hv》εj
D、hv.1.02Mev
A、數(shù)量
B、尺寸
C、能量
D、重量
A、特征X射線
B、示性X射線
C、熒光輻射
D、以上都對
A、本征X射線
B、示性X射線
C、標(biāo)識X射線
D、連續(xù)X射線
A、本征X射線
B、示性X射線
C、標(biāo)識X射線
D、以上都是
A、中子
B、分子
C、光子
D、光子、中子
A、1.6726×10-24克
B、3.167×10-27克
C、9.109×10-31克
D、5.478×10-24克
A、像質(zhì)計
B、膠片
C、評定尺
D、增感屏
最新試題
直接射向缺陷的波就是()
渦流檢測中的對比試樣的()和材質(zhì)相對被檢測產(chǎn)品必須具有代表性。
渦流檢測線圈的自感式線圈由()構(gòu)成。
根據(jù)檢測對象和目的的不同,渦流檢測儀器一般可分為()、渦流電導(dǎo)儀和渦流測厚儀三種。
當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時,移動探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。
對檢測儀的時間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
在聲束垂直試件表面時,所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
無損探傷檢測采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長范圍為()mm,峰值波長為365mm。