A、康普頓效應(yīng)
B、電子對
C、光電效應(yīng)
D、散射效應(yīng)
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你可能感興趣的試題
A、停顯液
B、醋酸
C、水
D、以上都不對
A、停顯液、醋酸、水
B、顯影液、醋酸、水
C、顯影液、定影液、水
D、顯影液、定影液、醋酸
A、暗
B、亮
C、與透過底片的光亮度相同
D、以上都不對
A、30cd/m2
B、100cd/m2
C、1000cd/m2
D、3000cd/m2
A、底片靈敏度
B、底片寬容度
C、底片清晰度
D、源的強度
A、試件厚度差
B、射線的質(zhì)
C、散射線
D、以上均不對
A、前散射
B、背散射
C、側(cè)面散射
D、以上都不是
A、左移
B、右移
C、上移
D、下移
A、光電效應(yīng)
B、康普頓效應(yīng)
C、電子對生成效應(yīng)
D、電離效應(yīng)
A、射線源種類或管電壓有關(guān)
B、被檢材料種類和密度
C、X光管陽極靶原子序數(shù)有關(guān)
D、被檢材料的原子序數(shù)
最新試題
在聲束垂直試件表面時,所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
各類渦流檢測儀器的()和結(jié)構(gòu)各不相同。
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的()
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動,即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生()
直接射向缺陷的波就是()
當波束不再與缺陷相遇,則回波()
采用以()為橫坐標,以平底孔直徑標注各當量曲線作成實用AVG曲線。
波束截面中心聲能(),隨著與中心的距離的增大,聲能()
磁性測厚技術(shù)包括機械式和()兩種測量方法。