A、對比度
B、清晰度
C、a和b
D、以上都不是
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A、康普頓效應(yīng)
B、電子對
C、光電效應(yīng)
D、散射效應(yīng)
A、停顯液
B、醋酸
C、水
D、以上都不對
A、停顯液、醋酸、水
B、顯影液、醋酸、水
C、顯影液、定影液、水
D、顯影液、定影液、醋酸
A、暗
B、亮
C、與透過底片的光亮度相同
D、以上都不對
A、30cd/m2
B、100cd/m2
C、1000cd/m2
D、3000cd/m2
A、底片靈敏度
B、底片寬容度
C、底片清晰度
D、源的強(qiáng)度
A、試件厚度差
B、射線的質(zhì)
C、散射線
D、以上均不對
A、前散射
B、背散射
C、側(cè)面散射
D、以上都不是
A、左移
B、右移
C、上移
D、下移
A、光電效應(yīng)
B、康普頓效應(yīng)
C、電子對生成效應(yīng)
D、電離效應(yīng)
最新試題
渦流檢測線圈的互感線圈一般由()構(gòu)成。
波束截面中心聲能(),隨著與中心的距離的增大,聲能()
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
掃查方式一般視試件的()而定。
當(dāng)波束不再與缺陷相遇,則回波()
當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時(shí),移動(dòng)探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。
在遠(yuǎn)場區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng),即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
對于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì),它反映子實(shí)體滿足需要的()